浊度计 上海昕瑞仪器仪表有限公司 WGZ-200
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[导读]杂散光对分光光度计测量结果的影响分析下面上海昕瑞通过理论计算公式的推导进一步说明杂散光与分光光度计测量误差之间的关系。

这些杂散光中一部分是测量波长因为某些原因而偏离正常光路在不通过试样的情况下,直接照射到光电探测器上,而另-部分则是指测量波长以外的偏离正常光路而到达光电探测器的光线,它们的存在可能会扰乱测量波长而使得测量结果偏离比尔定律影响分光光度计的分析测量结果,进而影响到分析仪器的测量结果。杂散光对分光光度计测量结果的影响分析

下面上海昕瑞通过理论计算公式的推导进一步说明杂散光与分光光度计测量误差之间的关系。当不考虑杂散光时,上海昕瑞根据比尔定律可知,A=-lgT==-lg(I'II)(1)式中,A为吸光度,T为透射比,I'为测量波长处透过试样的透射光强度,I为测量波长处透过参比液的透射光强度。当引人杂散光的影响时,吸光度测量值为A'=- IgT'=- lg[(I'+[)/(+1,)]即,T"=(I'+[,)/(I+1,)(2)式中,A'为引人杂散光后的吸光度,T”为引人杂散光后的透射比值,1。为杂散光强度。而杂散光可表示为S=I,式中,I为光电探测器所接收到的光强值,其包括了测量波长处的透射光强度及杂散光强度,即4=1+1。通常情况下,I> >I,因此,可以近似地认为4=1,则S=1/I。当测量波长的能量较低时,相对的杂散光比例则会增大。



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